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更新時間:2018-06-25
點擊次數(shù):2967
              數(shù)字聲波探傷儀/便攜式數(shù)字聲波探傷儀 型號:DP-UT320
DP-UT320數(shù)字聲波探傷儀
■ 儀器特點:
1. 省電,耗電僅2瓦,4節(jié)5號Ni-MH電池,2500mAh,充電后可作5~6.5小時。
2. 采用可變等分刻度,估算回波距離非常方便。
3. 采用回波顯示區(qū)左右分屏顯示模式。
4. 具有界面波鎖定能,可使用液浸法探傷或測厚。 
5. 具有波形擴展能,擴展程度和波門寬度無關,而且可以意連續(xù)改變擴展程度。
6. 具有動態(tài)波形描繪能,能畫出動態(tài)波形曲線 (移動探頭位置同回波度的關系),便于分析缺陷性質(zhì),實時畫出條回波峰點軌跡曲線,水平方向代表探頭在缺陷上方來回移動距離,根據(jù)曲線形狀,可以邦助分析缺陷性質(zhì)。
7. 具有速自動度能,按鍵后,儀器會自動改變增益,使回波度達到規(guī)定值。
8. 凍結(jié)后,可范圍調(diào)節(jié)聲程;相對增益置零鍵;搜索靈敏度提升鍵;斜探頭探傷距離X,Y方向雙刻度;延時快速歸零鍵;曲線位置提示能等。
■ 參數(shù)表:
項目名稱  | 參數(shù)  | 
材料聲速  | 1000~9999M/S  | 
大聲程  | 6100mm ,滿刻度聲程小 4mm (鋼,縱波,反射式)  | 
頻率范圍  | 0.4~10MHz / 0.7~1.4 1.8~3.5 4~6 MHz(帶通)  | 
增益范圍  | 0~110dB (步長0.1dB,1dB)  | 
延時范圍  | 0~6000mm  | 
K值范圍  | 0.20~5.00  | 
抑制范圍  | 0~50%  | 
增量  | 0~20dB  | 
補償  | -20~20dB  | 
測長線  | -20~20dB  | 
定量線  | -20~20dB  | 
判廢線  | -20~20dB  | 
垂直線性  | <3%  | 
水平線性  | <0.3%  | 
發(fā)射電源電壓  | DC 200V  | 
發(fā)射脈沖寬度  | 負脈沖方波 0.05~0.6μS 可調(diào)(步長0.01μS)  | 
發(fā)射脈沖內(nèi)阻  | 不大于10Ω  | 
發(fā)射重復頻率  | 25~400Hz  | 
聲程<150μS時 400/200Hz FAST/SLOW  | |
150μS <聲程<300μS時 200/100Hz FAST/SLOW  | |
300μS <聲程<600μS時 100/50HZ FAST/SLOW  | |
聲程>600μS時 50/25Hz FAST/SLOW  | |
探頭阻尼電阻  | 約120Ω 固定  | 
放大器輸入  | 增益0dB, 屏幕度時約50V峰值 輸入端噪聲約50μV峰值(寬帶) 帶寬噪聲約16nV√Hz峰值  | 
數(shù)字采樣  | 8bit 實時50MHz,等效200MHz(硬件實現(xiàn))  | 
顯示方式  | 檢波+、檢波-、波  | 
顯示器件  | 東芝TFT業(yè)彩色液晶顯示屏(320×240mm,5.7英寸),LED背光燈  | 
液晶屏刷新頻率  | 50Hz  | 
閘門  | 波門、失波門,可調(diào)  | 
動態(tài)范圍  | >32dB  | 
靈敏度余量  | >48dB (與探頭有關)  | 
分辯率  | >26dB (與探頭有關)  | 
測厚分辨率  | 0.02mm (厚度小于650mm時)  | 
電源  | 4節(jié)5號Ni-MH可充電池2500mAh 外接電源DC9~15V 0.5~0.3A  | 
電池消耗率  | 約2W (350mm聲程、背光強、發(fā)射重復頻率FAST) 約1.5W (350mm聲程、背光弱、發(fā)射重復頻率SLOW)  | 
電池連續(xù)作時間  | 約5小時 (350mm聲程、背光強、發(fā)射重復頻率FAST) 約6.5小時(350mm聲程、背光弱、發(fā)射重復頻率SLOW)  | 
儲存環(huán)境溫度  | -20℃~+70℃  | 
作環(huán)境溫度  | -10℃~+50℃  | 
外形尺寸  | 230×146×37mm(不包含旋鈕突出分)  | 
質(zhì)量  | 約900克 (含4節(jié)AA鎳氫電池)  | 
■ 基本配置:
主機  | 2.5MHz203A/9V電源適配器  | 探頭連接電纜  | 
直探頭  | 充電鋰電池、充電器  | 耦合劑  | 
斜探頭  | PC通訊軟件與電纜  | 儀器包  | 
■ 可選附件:
串行打印機TPUP-NH  | 探頭、試塊 
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